Geräte
Röntgenbeugung
| Bruker D8 Advance | 
| Pulverdiffraktometer mit Bragg-Brentano Geometrie und CuKα Strahlung für Routine-Planpräparat-Messungen, Messungen unter Inertgas (Dom) und temperaturabhängige Messungen | 
| Panalytical X'Pert | 
| Pulverdiffraktometer mit Bragg-Brentano Geometrie und CuKα Strahlung für Routine-Planpräparat-Messungen und temperaturabhängige Messungen | 
| Servicestelle Röntgenbeugung | 
Thermische Analyse
| Netzsch TG F1 Iris | 
| Thermo-Mikrowaage gekoppelt an FT-IR-Spektrometer | 
| Netzsch DSC 204 F1 Phoenix | 
| Dynamisches Differenz-Kalorimeter | 
| Netzsch STA409/414 | 
| DSC-TG-MS mit Skimmerkopplung, Quadrupol-MS, bis 1480°C (theoretisch bis 1700°C) | 
| Mettler-Toledo TGA-DSC | 
| Simultane TGA und DSC Messung bis 1600°C, koppelbar an Massenspektrometer | 
Elementaranalyse
| CHN-S Analytik (Bestimmung von C, H, N und S): Vario Micro cube, Elementar Analysensysteme | 
| ELMAS Core Facility | 
Elementanalytik
| DC/AC-Polarographie: Potenziostat 757 und 797 VA Computrace, Metrohm | 
| FAAS (Flammen-Atom-Absorptions-Spektrometrie): Optima 2000 DV, Perkin-Elmer | 
| ICP-OES (Induktiv gekoppeltes Plasma - Optische Emissions-Spektrometrie): Perkin Elmer, Optima 2500 DV | 
| ICP-MS (Induktiv gekoppeltes Plasma - Massen-Spektrometrie): 7500cx mit HMI, Agilent | 
| LC-ICP-QQQ (Flüssigchromatographie gekoppelt mit einem Triplequad-Massenspektrometer mit induktiv gekoppeltem Plasma): Agilent 8900 ICP-MS + Infinity HPLC | 
| LA_ICP-QQQ (Laserablation gekoppelt mit einem Triplequad-Massenspektrometer mit induktiv gekoppeltem Plasma): Agilent 8900 ICP-MS + Elemental Scientific Lasers, ESL 213 LA | 
| Weitere Kopplungstechniken: CE-ICP-MS (CE: Beckman-Coulter P/ACE-MDQ), HPLC-ICP-MS (HPLC: Agilent 1100/1200 ChemStation) | 
| ELMAS Core Facility | 
Spektrometer
| HP Impedanzspektrometer HP 4192A | 
| Charakterisierung von elektrischen Eigenschaften von Materialien in Abhängigkeit von der Frequenz (5 Hz bis 13 MHz) | 
| Perkin Elmer Lambda 750 | 
| UV-VIS-NIR-Spektrometer für diffuse Reflexion (Perkin Elmer Inc., USA) | 
| Perkin Elmer Lambda 25 | 
| UV-VIS-NIR-Spektrometer für Küvetten | 
| Bruker Vertex 70 | 
| FT-IR-Spektrometer | 
| Perkin Elmer LS55 | 
| Lumineszenz-Spektrometer | 
| Horiba FluoroMax 4 Spektrofluorometer | 
| Fluoreszenz-Spektrometer (Horiba Scientific, Japan) | 
| Horiba Modular, fasergekoppeltes Raman-Spektrometer | 
| Nd:YAG Laser, 532 nm, "SuperHead" Messkopf und Probenkammer (Horiba Scientific, Japan) | 
Sonstige Ausstattung
| Plasmaätzer Diener | 
| Plasmaanlage Diener FEMTO (Diener electronic GmbH & Co KG, Plasma-Surface-Technology) | 
| Fritsch Pulverisette 7 premium line | 
| Hochleistungs-Planeten-Mikromühle (Zentrifugalbeschleunigung: 95 g, integriertes Mess-System zur Darstellung der Druck- und Temperaturwerte während der Mahlung) | 
| Retsch PM 100 | 
| Planeten-Kugelmühle (Zentrifugalbeschleunigung: 33,3 g) | 
| Retsch MM 500 Nano | 
| Schwingmühle (mit der Möglichkeit zur Kryogenvermahlung) | 
| ALV/CGS-3 Compact Goniometer System (Firma: ALV) zur Dynamischen Lichtstreuung (DLS) | 
| Dynamische und statische Lichtstreuung zur Partikelgrößenbestimmung | 
| Anton-Paar Digitales Refraktometer Abbemat 350 | 
| Digitales Refraktometer nD-Bereich 1,26 bis 1,72 mit Probenstempel (Anton Paar, Germany) | 
| Mikroskop | 
| Das Erzmikroskop erlaubt hauptsächlich die Untersuchung von Dünnschliffen oder planen Werkstücken. | 
| Stereolupe | 
| Stereolupe, die max 110-fache Vergrößerung erlaubt. Bessere Tiefen- schärfe erlaubt auch die Betrachtung von Probenpulver und anderen Proben. | 
| Kontaktwinkelmesssystem (Marke Eigenbau) | 
| Zur Bestimmung der Benetzbarkeit unterschiedlicher Oberflächen. | 
| Seven Multi pH-Meter und Leitfähigkeitsmessgerät (Firma: Mettler Toledo) | 
| Zur pH-Wert- und Leitfähigkeitsbestimmung von wässrigen Lösungen oder Dispersionen. | 
| Thermo Scientific Megafuge Zentrifuge | 
| Kühlbare Zentrifuge mit Festwinkelrotor für 6 x 50 mL Zentrifugenröhrchen. |