Zentrum für Röntgenmikroskopie

Am Zentrum für Röntgenmikroskopie stehen zwei Röntgengeräte zur Verfügung, die gemeinsam die dreidimensionale zerstörungsfreie Untersuchung von Mikro- und Nanostruktur eines Werkstoffes ermöglichen.

Mit der CT-alpha können makroskopische Proben bis 120 mm Kantenlänge untersucht werden, wobei eine Auflösung von ca. 3 µm erreicht wird. Mit einer maximalen Beschleunigungsspannung von 160 kV lassen sich alle Werkstoffklassen, bis hin zu stark absorbierenden Materialien, untersuchen. Neben dem Absorptionskontrast kann ein gitterbasierter Phasenkontrastaufbau genutzt werden, um schwer kontrastierbare Strukturen sichtbar zu machen. Zudem lassen sich mit dem vorhandenen Zugmodul in-situ Zug- oder Druckversuche durchführen und Verschiebungen mittels Bildkorrelation (DIC, digital image correlation) auswerten.

Das durch die DFG geförderte XRM-II nanoCT ist ein SEM-basiertes Röntgengerät, welches mit einer Voxelgröße von bis zu 50 nm die Nanostruktur von Materialien aufdeckt. Typisches Probenmaterial sind Zylinder mit einem Durchmesser von 100 – 500 µm. Neben den Durchstrahlungsbildern und dem daraus rekonstruierten Volumen lassen sich auch die Signale von SEM und EDS korrelativ zur Strukturaufklärung nutzen.

Gerne unterstützen wir Sie bei Ihrem Forschungsvorhaben und begrüßen gemeinsame Forschungsprojekte.

Nutzerordnung

 

Spezifikation der Forschungsgeräte

CT-alpha

  • Röntgenspannung: 40 – 160 kV
  • Targetmaterial: Wolfram Transmissionstarget
  • Kontrastmodus: Absorptionskontrast und Phasenkontrast
  • Voxelgröße: 3 – 50 µm
  • In-situ Zug-/Druckmodul bis 5 kN
 

XRM-II nanoCT

  • Betriebsmodus Elektronenmikroskopie: JEOL JSM 7900F
    • In-lens Schottky Feldemissionsquelle
    • Auflösung: 0,6 nm (15 kV)
    • Beschleunigungsspannung: 0,01 – 30 kV
    • Probenstrom: bis 1 µA
    • In-Lens Detektor
    • Kontrast: Sekundärelektronen- und Rückstreuelektronenkontrast
    • Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS / EDX)
 
  • Betriebsmodus 3D nanoCT
    • Targetmaterial: W, Mo
    • Voxelgröße: 50 – 1500 nm
    • Probendurchmesser:
      • Polymere/Faserverbundwerkstoffe: bis 1000 µm
      • Leichtmetalle: bis 500 µm
      • Schwermetalle: bis 30 µm
 

Antrag Messzeiten

Wichtig ist die Übermittlung folgender Angaben:

  • Nutzungsumfang und Nutzungszeitraum
  • Qualifikation externer Personen, die die Geräte nutzen sollen
  • Inwieweit ist eine Unterstützung durch das wissenschaftliche Personal der UdS bei experimentellen Arbeiten erforderlich
  • Datenhandling: Sind USB-Sticks, externe Festplatten etc. notwendig

Ansprechpartner

Verantwortlicher Leiter:

Prof. Dr.-Ing. Hans-Georg Herrmann
Eine E-Mail senden: Fraunhofer, Universität
Telefon: 0681 9302-3820
Fax: 0681 9302-5935

Lehrstuhl für Leichtbausysteme am Fraunhofer IZFP
Campus E3 1
66123 Saarbrücken

 

Wissenschaftliche und technische Betreuung der Geräte:

Ramona Krämer, Dipl.-Ing. (FH)
Eine E-Mail senden
Telefon: 0681 9302-3926


Wissenschaftlicher Ansprechpartner:

Jonas Fell, M.Sc.
Eine E-Mail senden
Telefon: 0681 9302-3925

Offene Stellen

zu den Ausschreibungen

Lehrstuhl für Leichtbausysteme

Campus E3 1
66123 Saarbrücken

Lageplan und Anfahrt

Sekretariat
Doris Cawelius
doris.cawelius(at)izfp.fraunhofer.de

Tel.: 0681 9302-3940
Fax: 0681 9302-5935