FR Materialwissenschaft und Werkstofftechnik

Zentrum für korrelative Mikroskopie und Tomographie

Forschung und Angebot

- Multiskalen Tomographie
  
  FIB-Tomographie und Atomsonde an AlSi-Legierungen
  
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- In-situ Kornwachstum
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- Korrelative Tomographie
  
  Charakterisierung von AlSi mittels FIB/SEM Tomographie und Nano-CT
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- Mikromechanik
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- Risswachstum
  
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