Transmissionselektronenmikroskopie

Große Elektronensäule mit Anbauten und Arbeitsplatz mit mehreren Monitoren.
© Jonas Fell

JEOL JEM-F200

Das Transmissionselektronenmikroskop JEOL JEM-F200 ist mit einer Feldemissionsquelle ausgestattet, die sich durch ihre hohe Stabilität und Energieauflösung auszeichnet.  Die Anlage kann mit einer Beschleunigungsspannung von 20-200 kV betrieben werden und erreicht aufgrund der geringen chromatischen Aberration ein Auflösungsvermögen von 0,1 nm. Zwei großflächige Silizium-Drift-EDS-Detektoren ermöglichen selbst von strahlungsempfindlichen Proben schnelle EDS-Mappings. Neben STEM mit BF, DF oder HAADF-Detektor können auch Nanobeam DIffration oder EELS durchgeführt werden.

Technische Daten

  • Feldemissionsquelle FEG: 0,275 eV FWHM
  • Beschleunigungsspannung: 200 kV
  • Auflösung:
    • TEM: Gitter 0,1 nm
    • STEM-HAADF: 0,14 nm
  • Vergrößerung:
    • TEM: x20 bis x2 M
    • STEM: x200 bis x150 M
  • CEOS CEFID FIltersystem für EFTEM und EELS
  • 4K CMOS Kamera
  • 2x 100 mm² EDS-Detektoren

Modi

  • TEM
  • STEM mit BF/DF/HAADF-Detektor
  • STEM NBD (Nano Beam Diffraction)
  • EELS (Electron Energy Loss Spectroscopy)
  • EDS (Energy Dispersive Spectrometry)
  • CBD (Convergent Beam Diffraction)

Probenhalter

  • Einfachkipp-Verformungshalter
  • Doppelkipp-Heizhalter
  • Tomographiehalter
 

Anfragen beantwortet:

Dr.-Ing. Christoph Pauly

 

Dieses Projekt wird gefördert aus Mitteln des Europäischen Fonds für regionale Entwicklung:

Operationelles Programm EFRE Saarland 2014-2020 im Ziel "Investionen in Wachstum und Beschäftigung"

Ersatzbeschaffung eines Transmissionselektronenmikroskops mit STEM, EDX und EELS